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雙面測(cè)試,高產(chǎn)能,無(wú)局限
★ 雙面測(cè)試: 完全的植針率和并行測(cè)試
★ 測(cè)試板的面積:1000x610mm (40x24”)
★ 新LED和3D激光測(cè)試的全面覆蓋
★ 裝配線 / 自動(dòng)式 / 手動(dòng)式送板
★ 可探測(cè)微型SMD和柔性電路板
? 雙面探測(cè)
? 飛行測(cè)試機(jī)技術(shù)
? 4個(gè)超高速X-Y-Z運(yùn)動(dòng)軸
? 對(duì)008004封裝元件的快速，可靠地測(cè)試
? 多治具底部飛行頭
? 超軟觸摸技術(shù)
? 4x并行板上程序燒錄
? LED顏色和光線強(qiáng)度測(cè)試
? 多核心、真正的并行測(cè)試
? 激光3D測(cè)試
